Résumé La caractérisation structurale des nanomatériaux, ex situ et in situ en cours de croissance, est nécessaire à la compréhension des propriétés électroniques, opto-électroniques, physico-chimiques et des mécanismes de croissance. La diffusion/diffraction et l’absorption des RX restent des techniques de choix pour la détermination des déformations, de la composition, de la polarité, de l’ordre à courte distance, de la morphologie, ... et pour l’étude des propriétés structurales in situ, in operando. Ces techniques bénéficient de la brillance du rayonnement synchrotron de 3ème génération et de la possibilité de choisir l’énergie et la polarisation du faisceau incident (entre autres). Nous donnerons des résultats d’études d’assemblées de nanomatériaux. Nous prendrons comme exemples des boîtes quantiques GeSi/Si [1] et des hétérostructures nitrures (couches minces, nanofils, nanofils coeur-coquille) [2,3]. Nous montrerons l’intérêt de coupler à la fois la diffraction anomale (ou résonante), la spectroscopie X en condition de diffraction, l’absorption X et les calculs de structures ab initio [4,5]. Nous montrerons également des résultats préliminaires de l’étude par diffusion aux petits angles et par diffraction, en incidence rasante, de la croissance en phase liquide de nanofils ZnO.

2/ Etude in situ d’instabilités structurales sous haute pression (45’) Pierre Bouvier, LMGP, UMR CNRS 5628, Grenoble INP - Phelma

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