Reflection Spectroscopy in the XUV and Soft X-ray Regime : An Analysis of Magneto-Optical Effects in Crystalline Thin Films
Vendredi 3 octobre 2014 10:00
- Duree : 1 heure
Lieu : Room 018, Central Building, ESRF - 71 avenue des Martyrs - Grenoble
Orateur : Marc TESCH (Münster University of Applied Sciences, Germany)
More information : http://www.esrf.fr/cms/sites/www/home/events/Seminars/area-seminars/esrf-seminars-list/reflection-spectroscopy-in-the-xuv-and-soft-x-ray-regime-an-analysis-of-magneto-optical-effects-in-c.html
Contact : claudine.romero@esrf.fr
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