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Charge disorder and screening in graphene

Vendredi 23 octobre 2015 14:00 - Duree : 2 heures
Lieu : Amphithéâtre du CNRS bâtiment A, 3ème étage - 25 rue des Martyrs – Grenoble

Orateur : Soutenance de Thèse de Sayanti SAMADDAR (Institut Néel)

The charge carrier density in graphene on a dielectric substrate such as SiO2 suffers inhomogeneities, the so-called electron-hole puddles. The direct observation of the puddles’ growth, both in spatial extent and in amplitude, as the Dirac point is approached is achieved by performing scanning tunneling microscopy/spectroscopy on a mesoscopic graphene device. We can thereby directly relate the macroscopic device properties to its microscopic charge disorder assuming random charged impurities on the substrate as the primary origin.

Contact : clemens.winkelmann@neel.cnrs.fr

Discipline évènement : (Physique)
Entité organisatrice : (Institut Néel / QUEST)
Nature évènement : (Soutenance de thèse)
Site de l'évènement : Polygone scientifique

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