Development of electron microscopy diffraction techniques for the study of two and three dimensional materials
Lundi 6 octobre 2014 14:00
- Duree : 2 heures
Lieu : Amphithéâtre M001 - Ecole PHELMA Minatec - Parvis Louis Néel - 38000 Grenoble
Orateur : Soutenance de Thèse de Yannick MARTIN (CEA Grenoble – INAC/SP2M/LEMMA)
La thèse comporte 2 parties distinctes :
la technique CBED est appliquée pour mesurer les déformations dans des multicouches Si/SiGe ;
différentes techniques de microscopie (STEM HAADF, nanodiffraction, PACBED) sont utilisées pour mesurer épaisseur (nombre de couches atomiques) et orientation dans différents systèmes bidimensionnels, essentiellement graphène et MoS2.
Contact : carmelo.castagna@cea.fr
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