Single-electron counting statistics of shot and thermal noise in nanowire Si MOSFETs
Mardi 5 février 2013 15:00
- Duree : 1 heure
Lieu : Salle "Remy Lemaire" K 223, 1er étage, Bât. K, Institut Néel / CNRS - 25 rue des martyrs - Grenoble
Orateur : Katsuhiko NISHIGUSHI (NTT Basic Research Laboratories, Kanagawa - Japan)
More info on : http://www.fondation-nanosciences.fr/RTRA/fr/622/130205_seminaire_nishigushi.html
Contact : xavier.jehl@cea.fr
Discipline évènement : (Physique)
Entité organisatrice : (Fondation Nanosciences)
-
Entité organisatrice : (LANEF)
Nature évènement : (Séminaire)
Evènement répétitif : (Séminaire Nanoélectronique Quantique)
Site de l'évènement : Polygone scientifique
Prévenir un ami par email
Télécharger dans mon agenda